系统级测试（SLT）是一种在模拟实际使用场景下对芯片或系统进行的功能验证方法。它通过运行操作系统和实际应用程序，检查芯片或系统的功能、性能、可靠性等指标，而无需依赖传统的自动测试设备（ATE）生成测试向量。以下是具体说明：

一、核心特点

环境模拟

在接近真实终端使用场景的仿真环境中进行测试，例如通过LabCar或台架环境模拟车辆LIN网段，或通过虚拟机模拟操作系统环境。

功能验证

侧重验证系统或芯片是否满足功能规格说明书中的要求，关注数据链路层报文传输、帧超时、节点丢失等实际运行问题。

自动化与手动结合

部分测试可通过自动化脚本控制硬件状态（如继电器通断），但数据链路层测试仍需人工分析Rx报文。

二、与传统ATE的区别

无需测试向量：

SLT通过实际运行场景测试，无需像ATE那样预先设计测试用例。

测试内容更全面：SLT覆盖功能、性能、兼容性等多维度指标，而ATE主要验证静态功能。

三、应用场景

汽车电子：如LIN网段节点功能验证。

半导体测试：在芯片封装完成后，通过系统级软件检查模块功能。

软件系统：验证多模块集成后的整体运行情况。

四、优势与挑战

优势：

提高故障覆盖率，减少传统结构测试的重复工作；

更贴近真实使用环境，发现潜在的边缘情况问题。- 挑战：

需要完善的仿真环境与测试脚本；

对测试人员要求较高，需兼顾硬件操作与系统分析能力。

五、总结

SLT通过模拟实际使用场景，结合自动化与手动测试，弥补了传统ATE的不足，是半导体及电子系统测试中不可或缺的环节。